一款基于高校教育與實(shí)驗(yàn)室的高配置晶圓測(cè)試探針臺(tái) H 系列是一款高端配置綜合型手動(dòng)測(cè)試探針臺(tái)，獨(dú)有的氣控式卡盤移動(dòng)技術(shù)、靈活的 UPStart 模塊化結(jié) 構(gòu)設(shè)計(jì)、增強(qiáng)性防震系統(tǒng)，這些都是 SEMISHARE 在行業(yè)先進(jìn)的技術(shù)創(chuàng)新。無(wú)論現(xiàn)在和將來(lái)，當(dāng)客戶測(cè) 試需求提高或發(fā)生改變時(shí)，隨時(shí)可重新配置升級(jí)，真正實(shí)現(xiàn)一機(jī)多應(yīng)用，全面滿足客戶多種測(cè)試應(yīng)用需 要，該設(shè)備非常適合于研發(fā)中心和各大高校實(shí)驗(yàn)室的一步性預(yù)算購(gòu)置投入。

應(yīng)用適用于對(duì)微納器件進(jìn)行科研分析，檢測(cè)等用途。快速對(duì)晶圓上芯片的電路進(jìn)行分析測(cè)試電學(xué)參數(shù)、 產(chǎn)品性能做判斷，篩選出不合格芯片，以便進(jìn)一步提高產(chǎn)品良率。設(shè)備亦可搭載射頻特性測(cè)試和 升級(jí)搭載光纖光譜特性測(cè)試.