Semishare SX-12（SX Series）是一款集成了電學(xué)、光波、微波、等測(cè)試功能的半自動(dòng)探針臺(tái)，專業(yè)應(yīng)對(duì) 12寸Wafer (向下兼容8寸，6寸）Si，GaN，SiC等各類材質(zhì)的先進(jìn)芯片的性能測(cè)試。可對(duì)晶圓、MEMS、生物結(jié) 構(gòu)、光電器件以及其他集成電路、LED、LCD、太陽能電池等進(jìn)行7*24全天候在片探測(cè)，并可加載溫控系統(tǒng)，滿足 客戶于高低溫環(huán)境下的各種性能測(cè)試要求。 Semishare SX-12(SX系列）半自動(dòng)高低溫探針臺(tái)是在-60-200℃環(huán)境下通過探針或探針卡點(diǎn)測(cè)樣品pad電 極,通過連接測(cè)試儀器加載和測(cè)量電學(xué)信號(hào)，并在軟件端對(duì)電學(xué)信號(hào)進(jìn)行控制、判斷與存儲(chǔ)，并將判斷信息反饋 至噴墨系統(tǒng)，對(duì)次品芯片（die）進(jìn)行打點(diǎn)標(biāo)記，其中，標(biāo)記方式可根據(jù)客戶要求設(shè)定。在一個(gè)芯片（die）測(cè)試 完成后，通過軟件控制系統(tǒng)將chuck機(jī)械平臺(tái)移動(dòng)至下一個(gè)待測(cè)芯片（die），依次進(jìn)行循環(huán)測(cè)試。

設(shè)備?途&功能  SX-12 4 SX-12 設(shè)備可配備相應(yīng)的儀器儀表，對(duì)各類元器件、Wafer等進(jìn)行I-V、C-V、光信號(hào)、RF、1/f噪聲等進(jìn)行特性分 析，是一款綜合型多功能半自動(dòng)探針臺(tái)，并可根據(jù)需要，進(jìn)行客制化技術(shù)指標(biāo)設(shè)定，匹配客戶通用設(shè)備要求。