直接在SEM工作臺(tái)上安裝，操作簡(jiǎn)單，超級(jí)穩(wěn)定；為最大的接樣品傾斜靈活度和最短的工作距離而設(shè)計(jì)；提供一種靜精巧設(shè)計(jì)，可滿足各類SEM，拉曼和光學(xué)顯微鏡，以及 各類束線等。作為新一代專門(mén)的原位納米力學(xué)測(cè)試儀器，為SEM中使用而設(shè)計(jì)但同時(shí)可適用于其他多種平臺(tái)和環(huán)境 中。

獨(dú)有為T(mén)EM設(shè)計(jì)的完美的深度傳感壓頭；測(cè)試模式包含壓入、壓縮、拉伸、彎曲和劃痕；特別為主流TEM型號(hào)（FEI,Hitachi,JEOL,Zeiss）而設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)完美互動(dòng)。此外，通過(guò)視頻接口，可以實(shí)現(xiàn)載荷-位移曲線與對(duì)應(yīng)透射電鏡視頻在時(shí)序上的完全同步。除成像外，選 區(qū)衍射可以用來(lái)判斷樣品取向和加載方向。使用三種層級(jí)的壓頭定位和力學(xué)測(cè)試。

納米壓痕的形變實(shí)時(shí)觀測(cè)：旨在精準(zhǔn)定位，進(jìn)行硬度、 彈 性 模 量的試驗(yàn)，同時(shí)觀測(cè)材料變形過(guò)程。納米壓痕與EBSD（電子背 散射衍射）結(jié)合：與這一高空間分辨技術(shù)的結(jié)合可對(duì)金屬和合金采的全微區(qū)結(jié)構(gòu)進(jìn)行表征。通過(guò)測(cè)量單顆晶粒的硬度和模量，結(jié)合到EBSD圖譜來(lái)關(guān)聯(lián)取向與力學(xué)性能關(guān)系。微柱和顆粒的壓縮：觀察壓縮對(duì)材料內(nèi)位錯(cuò)的影響以測(cè)量屈服強(qiáng)度，來(lái)幫助預(yù)測(cè)村料性能，通過(guò)SEM或TEM圖像確認(rèn)壓頭準(zhǔn)確對(duì)中和試驗(yàn)測(cè)量，獲取納米和微米顆粒的尺寸與強(qiáng)度關(guān)系的定量數(shù)據(jù)，為其將來(lái)在工程材料中作為構(gòu)件使用提供依據(jù)。