ContourGT-K三維光學(xué)顯微鏡完善了表面測量和分析的新標(biāo)準(zhǔn)，這套測量系統(tǒng)擁有工業(yè)超前的測量性能和靈活性，采用獨有白光干涉技術(shù)，超大視野內(nèi)埃級至毫米級的垂直計量范圍，具有業(yè)界超高的垂直分辨率和測量重復(fù)性。

憑借其獨特的直觀用戶界面和功能完善的自動化檢測、分析功能，方便用戶快速高效的獲得材料粗糙度、二維/三維表面分析以及高分辨成像，廣泛應(yīng)用于LED、太陽能電池、薄膜材料、MEMS、精密機(jī)械零部件、摩擦磨損等各個領(lǐng)域，滿足各種表面測量的實際需求。

ContourGT-K測試系統(tǒng)上，用戶可自定義分析選項，多核處理器和Vision64?軟件將數(shù)據(jù)處理、分析速度提高十倍，大大提高測試效率。
同時完善了軟件和硬件功能，人性化的工作流程、超前的光學(xué)測試系統(tǒng)、高性價比的檢測平臺，使其成為桌上型三維光學(xué)顯微鏡的完美選擇。除了標(biāo)準(zhǔn)配置的各種檢測功能，客戶還可以自定義測試方案，選擇各類各級配件或特殊測試模塊：
? 全自動X、Y、Z樣品臺
? NanolensTM AFM模塊
? 特殊應(yīng)用測試軟件