Phenom ParticleMetric 飛納臺(tái)式掃描電鏡顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng) 復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司

價(jià)格：面議 產(chǎn)品資料：查看PDF文檔

生產(chǎn)地：荷蘭埃因霍溫品牌：FEI旗下PhenomWorld臺(tái)式掃描電鏡

型號(hào)：Phenom ParticleMetric公司傳真：86-021-28986356

移動(dòng)電話：18516656178更新時(shí)間：2019-02-20

復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司專供標(biāo)準(zhǔn)版臺(tái)式電鏡,全自動(dòng)掃描電鏡,飛納電子顯微鏡,電子生物顯微鏡報(bào)價(jià),掃描電子顯微鏡制造商 FEI 公司在收購(gòu)飛利浦電鏡部后，于 2006 年發(fā)布了全球率先款臺(tái)式掃描電鏡 Phenom G1（飛納率先代），并于 2009 年成立 Phenom-World 公司，專業(yè)研發(fā)并生產(chǎn) Phenom（飛納）系列臺(tái)式掃描電鏡，于 2011 年發(fā)布第二代臺(tái)式掃描電鏡 Phenom(飛納)；2013 年推出的 Phenom（飛納）第三代臺(tái)式掃描電鏡具有 100,000 倍的放大倍數(shù)，10 秒快速抽真空，不用噴金測(cè)量不導(dǎo)電樣品等優(yōu)勢(shì)。Phenom（飛納）臺(tái)式掃描電鏡的一系列產(chǎn)品及相關(guān)領(lǐng)域的配件，可應(yīng)用于材料科學(xué)、納米顆粒、生物醫(yī)學(xué)、紡織纖維、地質(zhì)科學(xué)等諸多領(lǐng)域，旨在為亞微米尺度應(yīng)用要求的用戶提供成像解決方案。飛納電鏡專注于臺(tái)式掃描電鏡的研究與開發(fā)，不斷投資、研發(fā)和完善 Phenom（飛納）臺(tái)式掃描電鏡產(chǎn)品和相關(guān)配件，增加臺(tái)式電鏡的可拓展性，幫助客戶獲得更高質(zhì)量的圖像數(shù)據(jù)，節(jié)省獲得數(shù)據(jù)的時(shí)間，提高他們的投資回報(bào)。

飛納電鏡在全球四十多個(gè)國(guó)家都設(shè)有分支和代理機(jī)構(gòu)，產(chǎn)品遍布全球并且逐年快速增加，同時(shí)擁有一支全球化高水準(zhǔn)的應(yīng)用和售后團(tuán)隊(duì)，隨時(shí)隨地為我們的客戶提供解決方案和售后服務(wù)。

復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司（Phenom China），是飛納電鏡在中國(guó)的子公司，負(fù)責(zé) Phenom 飛納臺(tái)式掃描電鏡在中國(guó)市場(chǎng)的推廣和銷售，并提供專業(yè)的技術(shù)支持和測(cè)試服務(wù)。我們擁有一支涉及眾多領(lǐng)域高素質(zhì)的應(yīng)用支持團(tuán)隊(duì)，為各行業(yè)的應(yīng)用需求提供解決方案。

 

 

飛納臺(tái)式掃描電鏡顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)

使用飛納臺(tái)式掃描電鏡顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)，以最快速、 最簡(jiǎn)便的方式實(shí)現(xiàn)顆粒的可視化分析。顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng) 支持用戶收集多種亞微米顆粒的形態(tài)和尺寸數(shù)據(jù)。

超越光學(xué)顯微鏡分析，完全自動(dòng)化的顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)把 可視化分析提高到了一個(gè)新臺(tái)階，這將在粉末設(shè)計(jì)、開發(fā)和質(zhì) 量控制中產(chǎn)生進(jìn)一步的探索和創(chuàng)新。
 

柱狀圖、散點(diǎn)圖和生成的圖像可以選定格式導(dǎo)出，并生成報(bào)告。 所有被測(cè)顆粒的柱狀圖都可以顯示為數(shù)量分布或體積分布。

散點(diǎn)圖可以從顆粒屬性的任意組合中繪制出來(lái)，以揭示相關(guān)性和 趨勢(shì)。飛納電鏡的顆粒系統(tǒng)支持用戶獲得他們需要的數(shù)據(jù)。因此，顆粒系統(tǒng)加快了顆粒分析速度，提高了產(chǎn)品質(zhì)量。

 

飛納臺(tái)式掃描電鏡顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)的主要優(yōu)點(diǎn)：

 以 ProSuit 為運(yùn)行平臺(tái)

 直接從飛納臺(tái)式掃描電鏡中獲取圖像

 識(shí)別并確認(rèn)例如破損顆粒、附著物和外來(lái)顆粒

 相關(guān)顆粒的特征，如直徑，圓度，縱橫比和凹凸度

 便捷的操作提升了工作效率并使計(jì)劃安排簡(jiǎn)單、可預(yù)測(cè)

 可輕松存儲(chǔ)于網(wǎng)絡(luò)或優(yōu)盤，便于共享、交流或以后參考，采集圖像沒有限制

 飛納臺(tái)式掃描電鏡的易用性和對(duì)環(huán)境的良好適應(yīng)力，使得 任何人都可借此直觀研究各種樣品

 同時(shí)提供優(yōu)質(zhì)照片和海量統(tǒng)計(jì)結(jié)果
 

飛納臺(tái)式掃描電鏡顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)的目標(biāo)應(yīng)用領(lǐng)域：

化妝品行業(yè)

 食品行業(yè)

 化工行業(yè)

 制藥行業(yè)

 陶瓷

 顆粒以及表面涂層

 顆粒狀添加劑

 環(huán)境顆粒

 過濾器/篩網(wǎng)公司