四川雙利合譜科技有限公司是一家集光學(xué)、精密機(jī)械、電子、計(jì)算機(jī)技術(shù)于一體的高新技術(shù)企業(yè),由北京卓立漢光儀器有限公司和合利科技發(fā)展有限公司共同合資成立。結(jié)合雙方近10年在推掃式高光譜系統(tǒng)以及LCTF(可調(diào)液晶濾光片)高光譜系統(tǒng)的國際技術(shù)實(shí)力,為廣大客戶提供全面的高光譜系統(tǒng)解決方案。目前國內(nèi)已經(jīng)成功在農(nóng)業(yè)遙感、工業(yè)分選、刑偵物證鑒定、機(jī)載、考古、食品檢測等領(lǐng)域。 我們始終以滿足用戶需求為宗旨,分別于北京、上海、 深圳、成都、西安設(shè)立辦事處,為用戶提供及時(shí)周到的銷售與技術(shù)服務(wù)。 公司長期重視優(yōu)質(zhì)高效、最短時(shí)間為客戶開發(fā)產(chǎn)品及提供技術(shù)支持。四川雙利合譜科技有限公司真誠的希望與國內(nèi)外客戶攜手合作,為推動我國科研及工業(yè)生產(chǎn)迅猛發(fā)展做出貢獻(xiàn)。 公司文化: 企業(yè)的發(fā)展理念:共同進(jìn)步,共同發(fā)展 公司與員工共同組成的大家庭,讓每一位員工在付出貢獻(xiàn)的同時(shí),一起分享公司不斷發(fā)展壯大的喜悅。 公司與客戶緊密合作,實(shí)際解決客戶在工作過程中碰到的問題,結(jié)合我們本地化的研發(fā)銷售團(tuán)隊(duì),提供無縫支持。在高光譜應(yīng)用領(lǐng)域,與我們的客戶一起成長。 企業(yè)的經(jīng)營理念:科技創(chuàng)新、優(yōu)質(zhì)服務(wù) 科技創(chuàng)新是高新技術(shù)企業(yè)持續(xù)發(fā)展的發(fā)動機(jī),在高光譜的前沿應(yīng)用領(lǐng)域,我們將科技進(jìn)步、研發(fā)創(chuàng)新作為企業(yè)生存的根本,以保證我們始終走在高光譜產(chǎn)品的最前端。優(yōu)質(zhì)的服務(wù)為客戶提供在不同產(chǎn)業(yè)新的發(fā)展機(jī)遇,讓客戶能夠從高光譜技術(shù)中獲益。
企業(yè)的質(zhì)量方針:客戶至上,質(zhì)量優(yōu)先 客戶是企業(yè)的生存之本、發(fā)展之源。顧客是我們的衣食父母,沒有顧客的支持,一切都將無從談起。因此,只有為客戶提供了滿意的服務(wù),公司才有生存和發(fā)展的機(jī)會,而對于客戶而言產(chǎn)品、服務(wù)質(zhì)量又是其最為關(guān)注的,所以對于每一個企業(yè)來說,質(zhì)量永遠(yuǎn)是企業(yè)的生命。品質(zhì)只有更好,而企業(yè)管理的切入點(diǎn)永遠(yuǎn)就是品質(zhì),品質(zhì)是制造出來的,不是檢驗(yàn)出來的,建立全員的品質(zhì)意識,人人抓品質(zhì),處處抓品質(zhì),品質(zhì)管理才能不斷改善,持續(xù)改進(jìn)。
高光譜成像光譜儀-高光譜與傳統(tǒng)的光柵推掃型光譜成像儀相比,可調(diào)諧濾波器,高光譜具有易于安裝和攜帶,掃描速度快,波長可自由選取等特點(diǎn),但是普遍存在光透過率低,光譜響應(yīng)范圍較窄的缺點(diǎn),本公司代理的高光譜成像分析系統(tǒng)采用體布拉格可調(diào)諧濾波器分光技術(shù),使其同時(shí)具備了以上兩類高光譜成像分析儀的優(yōu)點(diǎn),具體表現(xiàn)為 超高的非偏振透過率:高達(dá)60% 高分辨率:0.3~3nm 獨(dú)特的非色散性,性能與不隨波長變化 光譜響應(yīng)范圍寬,并且光譜連續(xù)可調(diào)400-1000nm,1000-2300nm 可拍攝選定波段,隨意調(diào)整所需波長,節(jié)省時(shí)間 靜態(tài)成像,無需任何機(jī)械運(yùn)動部件,樣品無需移動 優(yōu)秀的圖像質(zhì)量 可根據(jù)客戶需求靈活定制 應(yīng)用領(lǐng)域 高光譜分辨率成像光譜遙感起源于地質(zhì)礦物識別填圖研究,逐漸擴(kuò)展為植被生態(tài)、海洋海岸水色、冰雪、土壤以及大氣的研究中。 高光譜在高光譜測量的基礎(chǔ)上,具有圖譜合一的優(yōu)勢,可以到葉片一個點(diǎn)去探測作物不同脅迫癥狀的特征,又可獲取受脅迫作物面狀的光譜信息,點(diǎn)面結(jié)合綜合地反映作物遭受脅迫的程度。所以,成像高光譜已經(jīng)成為國內(nèi)外研究的熱點(diǎn),學(xué)者們利用高光譜成像技術(shù)定量化地提取作物所遭受的各種脅迫特征,根據(jù)高分辨率的圖像對葉片及葉片的局部區(qū)域進(jìn)行分析,從而在更加微觀的尺度上進(jìn)行機(jī)理探測研究。
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