![]() VersaSCAN 微區(qū)掃描電化學(xué)測試系統(tǒng)
阿美特克商貿(mào)（上海）有限公司科學(xué)
價格：面議
生產(chǎn)地：品牌：美國普林斯頓應(yīng)用研究
型號：VersaSCAN公司傳真：010-85262141
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烏小姐(聯(lián)系我時，請說明是在化工儀器網(wǎng)上看到的，謝謝)
美國阿美特克集團公司主營產(chǎn)品：電化學(xué)工作站,多通道電化學(xué)工作站,進口電化學(xué)工作站,微區(qū)掃描電化學(xué),電化學(xué)顯微鏡等電化學(xué)產(chǎn)品，是全球電子儀器和電子機械設(shè)備的制造商，年銷售額超過50億美元，員工超過14,000人，分布在美國及全球的120多個工廠，80多家銷售和服務(wù)中心。Advanced Measurement Technology Inc.是美國阿美特克(Ametek)集團的子公司，旗下?lián)碛蠵rincetonApplied Research(普林斯頓應(yīng)用研究)，SolartronAnalytical（輸力強分析），Signal Recovery等四個品牌。 普林斯頓應(yīng)用研究（PAR，Princeton Applied Research）是一個歷史悠久的電化學(xué)儀器品牌。它創(chuàng)建于1961年，由世界知名的普林斯頓大學(xué)和等離子物理實驗室的一群科學(xué)家和商業(yè)人士聯(lián)合組建，50多年來，在業(yè)內(nèi)擁有極高的品牌知名度。自1979年以EG G旗下品牌進入中國以來，用戶已經(jīng)超過千人，專心傾注于電化學(xué)分析與合成、電催化、腐蝕應(yīng)用與研究、化學(xué)電源、生物醫(yī)藥和傳感器、材料研究等領(lǐng)域，提供卓越的研究型宏觀和微觀電化學(xué)測試儀器。 輸力強分析SolartronAnalytical 是阿美特克集團公司旗下另一個卓越品牌。具有60多年設(shè)計和生產(chǎn)精密電子儀器的歷史，是電化學(xué)及材料交流阻抗譜儀的專業(yè)生產(chǎn)廠商，已成為極高準確性和可靠性的電化學(xué)和材料測試分析儀器市場的領(lǐng)導(dǎo)者。業(yè)內(nèi)久負盛譽的產(chǎn)品有：頻率響應(yīng)分析儀，電池研究測試系統(tǒng)，材料阻抗測試儀。應(yīng)用于物理與化學(xué)電源、超級電容器、電化學(xué)傳感器、腐蝕與防護、電分析、電催化、電解電鍍電合成等領(lǐng)域；在研究和檢測材料（包括生物材料）的儲存電荷（電容）和傳遞電荷（電導(dǎo)）等阻抗特性測試方面以其極高的采樣速度及頻率分辨率、極小的測量誤差以及多種阻抗測量技術(shù)成為全球市場上的領(lǐng)跑者。 銷售電話：400-1100-281 服務(wù)電話：400-1100-282 E-mail：amt.si.china@ametek.com 中文網(wǎng)站：www.par-solartron.com.cn AMETEK Inc.北京 朝陽區(qū)酒仙橋路10號京東方 總部大廈（B10）二層西側(cè) 郵編：100015 電話：010-85262111-15 傳真：010-85262141 AMETEK Inc.上海 上海自由貿(mào)易試驗區(qū)富特東 三路526號1幢二層A1區(qū) 郵編：200131 電話：021-58685111-101 傳真：021-58660969
微區(qū)掃描電化學(xué)材料腐蝕的電化學(xué)測試方法局限于整個樣品的宏觀測試, 測試結(jié)果只反映樣品的不同局部位置的整體統(tǒng)計結(jié)果,不能反映出局部的腐蝕及材料與環(huán)境的作用機理.為進行局部表面科學(xué)研究,微區(qū)掃描系統(tǒng)提供了一個新的途徑,并日益得到包括局部腐蝕領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用。近年來，人們一直在探索局部電化學(xué)過程的研究。*代掃描參比電極技術(shù)（SRET）能探測局部腐蝕的發(fā)生。第二代掃描振動電極技術(shù)（SVET）采用振動電極測量局部 （電流，電位〕隨遠離被測電極表面位置的變化。 SVET具有比SRET更高的靈敏度。在SVET和SVET基礎(chǔ)上，又提出了采用掃描Kelvin振動電極（SKP）測量不同材料表面功函數(shù)。
微區(qū)掃描電化學(xué)工作原理
掃描振動參比電極系統(tǒng)是利用振動電極和鎖相放大器消除微區(qū)掃描中的噪聲干擾,提高測量精度. SVET系統(tǒng)具有高靈敏度,非破壞性,可進行電化學(xué)活性測量的特點.它可進行線性或面掃描,研究局部腐蝕（如電蝕和應(yīng)力腐蝕的產(chǎn)生,發(fā)展等）,表面涂層及緩蝕劑的評價等方面的研究,掃描振動探針（SVET）是在液態(tài)腐蝕環(huán)境下,進行腐蝕研究的有力工具,它能檢測小于5uA/cm2的原位腐蝕。
SKP工作原理
SKP掃描開爾文探針系統(tǒng)為表面科學(xué)測量提供了一個新的途徑，開爾文探針是一種無接觸，無破壞性的儀器，可以用于測量導(dǎo)電的、半導(dǎo)電的，或涂覆的材料與試樣探針之間的功函差。 這種技術(shù)是用一個振動電容探針來工作的，通過調(diào)節(jié)一個外加的前級電壓可以測量出樣品表面和掃描探針的參比針尖之間的功函差。 功函和表面狀況有直接關(guān)系的理論的完善使SKP成為一種很有價值的儀器，它能在潮濕甚至氣態(tài)環(huán)境中進行測量的能力使原先不可能的研究變?yōu)楝F(xiàn)實。
SKP掃描開爾文探針系統(tǒng)的應(yīng)用：
不銹鋼和鋁等材料的點蝕檢測、成長過程在線監(jiān)測等； 有機和金屬涂層缺陷和完整性研究；金屬/有機涂層界面的腐蝕的機制與檢測；有機涂層的剝離和脫落機制； 鈍化處理的不銹鋼焊接熱影響區(qū)的電位分布；干濕循環(huán)的碳鋼和不銹鋼的陰極區(qū)和陽極區(qū)的分布行為；薄液層下氧還原反應(yīng)和金屬的腐蝕過程的特征；模擬不同大氣環(huán)境的腐蝕電位在線監(jiān)測；鋁合金等材料在大氣環(huán)境中局部腐蝕敏感性；鋁合金的絲狀腐蝕（filiform corrosion）； 硅烷L-B膜修飾金屬表面的結(jié)構(gòu)和穩(wěn)定性； 鋅-鐵偶合金屬界面區(qū)的電位分布特征；磷化處理鋅表面的碳微粒污染檢測；檢測微小金屬表面的應(yīng)力分布和應(yīng)力腐蝕開裂；檢測金屬和半導(dǎo)體材料微小區(qū)域的表面清潔度，缺陷，損傷和均勻程度；研究和評價氣相緩蝕劑性能；電化學(xué)傳感器；
微區(qū)掃描電化學(xué)技術(shù)參數(shù)：
VersaScan采用了納米分辨率、快速精確的閉環(huán)X、Y、Z移位系統(tǒng)，
以及靈活便捷的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)
微區(qū)掃描探針平臺系統(tǒng)主要技術(shù)參數(shù)：
1. 掃描范圍（X、Y、Z）：100mm 100mm 100mm
2. 掃描驅(qū)動分辨率：8nm
3. 位移偏碼：線性，零滯后
4. 位移：閉環(huán)定位
5. 線性位移編碼分辨率：50nm
6. 重復(fù)性：250nm
7. 抗震光學(xué)平臺采用蜂巢狀的內(nèi)部設(shè)計和硬質(zhì)鋼表面
8. 計算機通訊方式：USB接口; 儀器與儀器之間以以太網(wǎng)連接
9. 控制與分析軟件：隨機提供軟件預(yù)裝的高性能筆記本電腦。單一軟件平臺控制所有多種掃描探針技術(shù)；內(nèi)嵌3D數(shù)據(jù)旋轉(zhuǎn)視圖功能，提高圖形的展現(xiàn)力；結(jié)果可以圖像或表格形式輸出，用于導(dǎo)入至其它分析或報告軟件。 10. 大樣品池：VersaScan L池（選配件）
11. SECM電化學(xué)微池：VersaScan mL池 （選配件）
12. 樣品觀察系統(tǒng)：VersaCAM，含相機、鏡頭、顯示屏（選配件）
13. 微區(qū)技術(shù)：SECM、SVET、SKP、LEIS、SDC、OSP（可選配）
軟件特性： 控制：計算機控制探針移動、數(shù)字式/連續(xù)掃 描、掃描范圍、速度、數(shù)據(jù)采集精度等；操作：簡便易用、線性解碼實時位移顯示；測量：先掃描后數(shù)據(jù)采集、面掃單軸可高達70,000數(shù)據(jù)點;結(jié)果：ASCII數(shù)據(jù)文件；標準配置2D和3D彩色圖像顯示和輸出
微區(qū)掃描電化學(xué)主要特點：
SECM是一個精密的掃描微電極系統(tǒng)，具有極高空間分辨率。它在溶液中可檢測電流或施加電流于微電極與樣品之間。SECM與EC-STM、EC-AFM具有互補性，EC-STM和EC-AFM是對溶液中樣品表面進行原子級和納米級成像分析，EC-STM和EC-AFM更多地展現(xiàn)了電化學(xué)過程的表面物理圖像。而SECM則用于檢測、分析或改變樣品在溶液中的表面和界面化學(xué)性質(zhì)。SECM具有高分辨率、易操作、測試樣品更接近實際應(yīng)用情況等特點，適用于分析研究各種實時和原位的電化學(xué)反應(yīng)過程。EC-STM和EC-AFM強調(diào)的是結(jié)果，而SECM注重的是過程和結(jié)果。
SECM有很多潛在的應(yīng)用，目前主要用于電沉積和腐蝕科學(xué)中的表面反應(yīng)過程基礎(chǔ)研究、酶穩(wěn)定性研究、生物大分子的電化學(xué)反應(yīng)特性以及微機電系統(tǒng)（MEMS）等領(lǐng)域。
SVET-SKP系統(tǒng)工作特點：
1．非接觸測量，不干擾測定體系；
2. 對界面區(qū)狀態(tài)的變化敏感，如材料表面和表面膜元素分布，
應(yīng)力分布，界面區(qū)化學(xué)分布，電化學(xué)分布的變化；
3. 測定金屬、絕緣膜下金屬和半導(dǎo)體電位分布；
4. 10E-12A~10E-15A 數(shù)量級的極弱交流信號的測量，測定裝置必須具
有很高的抗干擾能力；
5．在線（In-situ）圖示樣品微區(qū)電化學(xué)和樣品表面變化過程等；
6．一維、二維和三維圖示與分析（3D軟件為標配）；
7．特別適用液相和大氣環(huán)境下的材料表面和界面的微區(qū)顯微分析。
SVET與SKP系統(tǒng)的結(jié)合
SRET和SVET主要測量材料在液體電解質(zhì)環(huán)境下的局部電化學(xué)反應(yīng)過程；SKP能夠測量材料在不同濕度大氣環(huán)境下，甚至其它氣體環(huán)境下的微區(qū)特性及其隨環(huán)境變化過程等?，F(xiàn)在公司將用于液體電解質(zhì)環(huán)境下的局部電化學(xué)反應(yīng)過程的SVET和用于大氣環(huán)境下的SKP技術(shù)有機的結(jié)合在一起，極大地拓展了您的研究領(lǐng)域，有效地利用資源，降低了您的購買費用。
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產(chǎn)品分類