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移動電話：15601689581更新時間：2019-01-24

激光器調(diào)制器,激光測量加工設備,光學部件,光譜儀,光纖器件,晶體,精密定位系統(tǒng)掃描系統(tǒng),探測器光子計數(shù)器,專用實驗設備,相機

上海昊量光電設備有限公司   
Aunion Tech Co., Ltd
專業(yè)源自專注  專注成就未來

自2008年成立以來，昊量光電專注于光電領(lǐng)域的技術(shù)服務與產(chǎn)品經(jīng)銷，致力于引進國外Z具先進性與創(chuàng)新性的光電技術(shù)與可靠產(chǎn)品，為國內(nèi)Z前沿的科研與工業(yè)領(lǐng)域提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品與服務，助力中國智造與中國創(chuàng)造! 目前，昊量光電已經(jīng)與來自美國、歐洲、日本的多家知名光電產(chǎn)品制造商建立了緊密的合作關(guān)系。其代理品牌均處于相關(guān)領(lǐng)域的發(fā)展前沿，產(chǎn)品包括各類激光器、光電調(diào)制器、光學測量設備、精密光學元件等，所涉足的領(lǐng)域涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫(yī)療、科學研究與國防等。

昊量光電堅持 專業(yè)源自專注，專注成就未來 的經(jīng)營理念。近年來，我們專注于前沿的細分市場，為量子光學、生物顯微、物聯(lián)傳感、精密加工、先進激光制造等領(lǐng)域的客戶提供系統(tǒng)解決方案。

作為一家以技術(shù)溝通與技術(shù)服務見長的高科技企業(yè)，我們所有的銷售與技術(shù)服務團隊成員都具有理工科方面的專業(yè)背景，并在公司接受相關(guān)領(lǐng)域的專業(yè)培訓，在售前技術(shù)溝通、售后產(chǎn)品安裝培訓、產(chǎn)品問題解決、軟硬件增值服務等方面為客戶提供更加專業(yè)化的服務！我們專業(yè)高效的商務與物流部門憑借多年積累的國際貿(mào)易經(jīng)驗與規(guī)范化的制度流程，保障每一筆訂貨準時安全到達目的地，免除客戶的后顧之憂！

秉承誠信、高效、創(chuàng)新、共贏的核心價值觀，昊量光電堅持以誠信為基石，憑借高效的運營機制和勇于創(chuàng)新的探索精神為我們的客戶與與合作伙伴不斷創(chuàng)造價值，實現(xiàn)各方共贏！

立足于光電產(chǎn)業(yè)，昊量光電始終堅持價值創(chuàng)造與創(chuàng)新，贏得客戶與合作伙伴的認可，不斷拓展業(yè)務領(lǐng)域的新邊疆，立志打造國際的代理服務品牌！

緊湊、快速的工業(yè)級光度計

高速亮度、照度和Flicker閃爍測量

Asteria系列光度計適合于亮度、照度和Flicker閃爍測量。基于我們已有的成熟平臺，Asteria是專門為需要內(nèi)置強大計算能力、易于產(chǎn)線集成和快速得到測試結(jié)果的產(chǎn)線應用開發(fā)的。

Asteria可以提供兩種配置：鏡頭配置可以用于測量亮度(cd/m )和flicker。余弦校正探頭配置可以用于測量照度(lux)和flicker。

Asteria系列特點：

亮度或者照度測量，探測器響應匹配人眼響應曲線（CIE1931）

支持液晶行業(yè)(Contrast,JEITA,VESA)和燈具行業(yè)(percentage, Index)所有6種flicker計算方法.

所有計算儀器內(nèi)部完成，包括JEITA，便于系統(tǒng)集成

得益于高速的采樣頻率和大的內(nèi)存，可以同時測量高頻信號和低頻信號（比如1Hz）

支持外部觸發(fā)功能，適合產(chǎn)線應用

支持大部分的編程語言Labview / Labwindows / Visual Studio (C++, C#, VB)/ 等

USB和RS232通訊接口

基本參數(shù)

探測器

硅光二極管

光譜響應

接近CIE1931色度匹配曲線

測量參數(shù)

亮度,  照度,   Flicker, 響應時間

光學系統(tǒng)

接收角度5 ( 2.5)

測量光斑尺寸

12mm@50mm工作距離；19mm@100mm工作距離

測量速度

180,000  次/秒.  儀器內(nèi)存可存儲250,000  個測量數(shù)據(jù).  

長、寬、高

69x31x93   mm (不含鏡頭部分)

固定方式

儀器各面都有12xM3 螺孔

重量

~0.35   kg

測量參數(shù)

參數(shù)

范圍

準確性

重復性

分辨率

15bit   for X,Y and Z

78dB

亮度(Y)

0.002cd/m2-15000cd/m2

積分時間1ms-5s之間

4%測量值

Y: 0.2%   for Y  at 0.1cd/m2

Y: 0.1%   for Y at 1cd/m2

Y: 0.05%   for Y at 5cd/m2

Y: 0.03%   for Y at 150cd/m2

測量速度

4-10次/秒(0.1cd/m2);  10-20次/秒(1cd/m2);

20-100次/秒( 5cd/m2); 

Flicker

(contrast   method)

1cd/m2或更高亮度

2%  Flicker frequency:30Hz AC/DC 10% sine wave   @ 10Cd/m2

1%  

Flicker

(Jeita   method)

1cd/m2或更高亮度

2dB  Flicker frequency:30Hz AC/DC 10% sine wave   @ 10Cd/m2

1dB

工作溫度

10-35℃