HORIBA歐洲總部 自從1988年合并了美國SPEX公司和1995年合并了法國Dilor,Sofie等公司后,Jobin Yvon公司于1997年加入了世界第六大儀器制造集團(tuán)――HORIBA公司,完成了公司強(qiáng)強(qiáng)聯(lián)手。如今Jobin Yvon在法國、美國、日本、英國、意大利、荷蘭設(shè)有生產(chǎn)廠家,其分支機(jī)構(gòu)遍布全球。現(xiàn)在Jobin Yvon公司除了提供各種類型的衍射光柵和離子刻蝕全息光柵外,還提供各種類型的光譜儀產(chǎn)品,如:激光拉曼光譜儀(Raman),熒光(壽命)光譜儀(FL),直讀火花光譜儀(SPARK),電感耦合等離子發(fā)射光譜儀(ICP),輝光放電光譜儀(GDS),橢圓偏振光譜儀(Ellipsometry),特殊搭建系統(tǒng)(System)及各種光學(xué)光譜器件(成像光譜儀,光源,IR檢測器,CCD檢測器等)。 目前,HORIBA Jobin Yvon公司設(shè)立了薄膜部、拉曼(光譜儀)部、發(fā)射(光譜儀)部、熒光(光譜儀)部、法醫(yī)部、光學(xué)儀器部、光柵 OEM儀器部等7個(gè)部門。旨在為您提供強(qiáng)大的技術(shù)支持與科研保障!
成立于1819年,Jobin Yvon公司的總部設(shè)在高科技發(fā)達(dá)的法國首都――巴黎。在近二百年的發(fā)展中,Jobin Yvon公司始終遵循著創(chuàng)建以來的一貫宗旨――高品質(zhì),使公司一直處于世界光柵及光譜儀生產(chǎn)的領(lǐng)軍地位,并不斷的創(chuàng)造著世界率先:
1900年 世博會上的干涉儀、光彈性測量儀
1962年 雙級光譜儀和1400系列雙級激光拉曼光譜儀以及計(jì)算機(jī)全控制熒光光譜儀
1968年 商品化全息光柵
1973年 相差校正全息光柵(榮獲IR100獎(jiǎng))
1977年 拉曼分子顯微探針(IR100獎(jiǎng)),順序掃描型ICP光譜儀
1975年 全計(jì)算機(jī)化光子計(jì)數(shù)拉曼光譜儀和全計(jì)算機(jī)化光子計(jì)數(shù)熒光光譜儀
1983年 離子刻蝕 閃耀 全息光柵
1985年 光柵型波分復(fù)用器
1989年 超級校正全息光柵和二維成像光譜儀
1996年 榮獲法國CNRSZ佳橢偏儀獎(jiǎng)
1998年 可配CCD檢測器的Triax系列光譜儀(獲激光儀誘導(dǎo)發(fā)光技術(shù)獎(jiǎng))
1998-1996年 收購美國知名品牌SPEX、法國Dilor和法國Sofie儀器公司
2001年 獲得美國宇航局(NASA)頒發(fā) 宇宙起源攝譜儀光柵接觸貢獻(xiàn)獎(jiǎng)
2002年 世界首臺FTIFR聯(lián)用拉曼光譜儀,在Pittcon展會獲得EditorZ佳新品獎(jiǎng)
2002-2003年 收購德國Philips橢偏儀公司和IBH(英格蘭)公司
2006年 美國宇航局(NASA)噴射推進(jìn)實(shí)驗(yàn)室頒發(fā) 運(yùn)行碳觀測器(OCO)衍射光柵杰出貢獻(xiàn)獎(jiǎng)
HORIBA歐洲總部
自從1988年合并了美國SPEX公司和1995年合并了法國Dilor,Sofie等公司后,Jobin Yvon公司于1997年加入了世界第六大儀器制造集團(tuán)――HORIBA公司,完成了公司強(qiáng)強(qiáng)聯(lián)手。如今Jobin Yvon在法國、美國、日本、英國、意大利、荷蘭設(shè)有生產(chǎn)廠家,其分支機(jī)構(gòu)遍布全球?,F(xiàn)在Jobin Yvon公司除了提供各種類型的衍射光柵和離子刻蝕全息光柵外,還提供各種類型的光譜儀產(chǎn)品,如:激光拉曼光譜儀(Raman),熒光(壽命)光譜儀(FL),直讀火花光譜儀(SPARK),電感耦合等離子發(fā)射光譜儀(ICP),輝光放電光譜儀(GDS),橢圓偏振光譜儀(Ellipsometry),特殊搭建系統(tǒng)(System)及各種光學(xué)光譜器件(成像光譜儀,光源,IR檢測器,CCD檢測器等)。
目前,HORIBA Jobin Yvon公司設(shè)立了薄膜部、拉曼(光譜儀)部、發(fā)射(光譜儀)部、熒光(光譜儀)部、法醫(yī)部、光學(xué)儀器部、光柵 OEM儀器部等7個(gè)部門。旨在為您提供強(qiáng)大的技術(shù)支持與科研保障!
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SZ-100 V2 納米顆粒分析儀是準(zhǔn)確測量小顆粒物理性質(zhì)的分析工具,如顆粒粒徑、zeta電位的檢測,分子量(Mw)以及第二維利系數(shù)(A2)的測定;還可以用于檢測蛋白質(zhì)、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數(shù)。
SZ-100 V2納米顆粒分析儀典型應(yīng)用包括:納米顆粒,膠體,乳液以及亞微米懸浮液。
產(chǎn)品特點(diǎn)
同臺儀器可測三種參數(shù) 粒度、zeta電位、分子量及第二維利系數(shù)
寬檢測范圍,寬濃度范圍 樣品濃度可達(dá)40%
自動(dòng)滴定儀 可用于zeta電位測量過程中pH值的自動(dòng)滴定
軟件操作簡單功能強(qiáng)大,一鍵測量
雙光路雙角度粒徑測量(90 和173 )
采用微量樣品池
技術(shù)參數(shù)
粒徑測量原理:動(dòng)態(tài)光散射法(光子相關(guān)光譜法)
粒徑測定范圍:0.3nm ~10 m
粒徑測量精度: 2%(NIST 可溯源標(biāo)準(zhǔn)粒子100nm)
Zeta 電位測量原理:激光多普勒電泳法
Zeta 電位測量范圍:-500 mV ~ +500 mV
分子量測量原理:Debye plot
分子量測量范圍:1000 ~ 2 107 Da
測量角度:90 和173 (可自動(dòng)或手動(dòng)選擇)
樣品量:12 L ~ 1000 L