Hatachi日立XE-NSOM近場掃描光學顯微鏡
長沙科美分析儀器有限公司
價格:面議
生產(chǎn)地:日本品牌:
型號:公司傳真:0731-82222302
移動電話:0731-82222145更新時間:2018-03-20
液相色譜儀;氣相色譜儀;氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀;液相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀;蒸發(fā)光散射檢測器;離子色譜儀;液相色譜進樣閥;液相色譜柱;液相色譜配件;固相萃取;頂空進樣器;原子吸收分光光度計;付里葉變換紅外光譜儀;紫外可見分關光度計
Hatachi日立XE-NSOM近場掃描光學顯微鏡
XE-NSOM –用于各種光學應用的完備的AFM 系統(tǒng) XE-NSOM是Park Systems專為高級光學研究而精心設計的一款專業(yè)產(chǎn)品,該儀器具備近場掃描光學顯微鏡(Near-field Scanning Optical Microscopy, NSOM)、拉曼光譜儀 (Raman Spectrometry)和共聚焦顯微鏡(Confocal Microscopy)功能。XE-NSOM 為此類光學實驗提供了一整套性能可靠功能齊全的研究檢測系統(tǒng)。 技術參數(shù)(機械部分):
1. XY掃描器:100μm×100μm(閉環(huán)) 2. Z掃描器:12μm (可選配25μm) 3. 水平度:100μm線掃描垂直偏差不超過2nm 4. 樣品臺移動范圍:4mm(X/Y),27.5mm (Z) 5. 成像方法: AFM, NSOM 6. 光學觀察:垂直光路設計,可直接觀察微懸臂和樣品 技術參數(shù)(NSOM部分):
1. NSOM激光光譜:400~900nm 2. 可根據(jù)透射或反射NSOM測量要求選用有孔或無孔微探針 3. 光子檢測:APD 或PMT 技術參數(shù)(電子部分) 1. 微處理器:600MHz,4800MIPS DSP 2. 模數(shù)/數(shù)模:16位,500kHz采樣頻率 3. 圖像采集:同步自動采集16幅圖像,分辨率高達4096×4096像素 4. 通訊方式:采用基于TCP/IP協(xié)議的通訊方式與計算機聯(lián)接 5. 符合CE認證標準 主要特點: 專業(yè)NSOM和Raman-AFM測量系統(tǒng) 一、 原子力顯微鏡和光學測量的完美結合 二、 科學的光學設計提供了更寬的觀測角度 三、 多功能的平臺可滿足反射和透射測量要求 四、 適宜光子檢測的便捷式光軸調(diào)節(jié)系統(tǒng) 五、 便于產(chǎn)品升級的模塊化設計思想
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