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半導(dǎo)體模塊全參數(shù)測(cè)試設(shè)備
詳細(xì)信息 |
EN-3020C系統(tǒng)是專為測(cè)試IGBT而設(shè)計(jì)。能夠真實(shí)準(zhǔn)確測(cè)試出IGBT與二極管的靜態(tài)參數(shù):其測(cè)試范圍如下:
l 柵極-發(fā)射極漏電流測(cè)試單元 VGES、IGES
l 柵極-發(fā)射極閾值電壓測(cè)試單元 Vge(th)
l 門(mén)極-發(fā)射極間電壓測(cè)試單元 VCES、ICES
l 集電極-發(fā)射極飽和電壓測(cè)試單元 Vge(sat)、IC
l 二極管壓降測(cè)試單元 VF、IF
l 二極管反向擊穿電壓測(cè)試單元 VR、IR
l 結(jié)電容測(cè)試單元 Cies, Coes, Cres
此設(shè)備的控制系統(tǒng)主要由計(jì)算機(jī)控制,計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)是該測(cè)試設(shè)備的中心控制單元,設(shè)備的工作程序、工作時(shí)序、開(kāi)關(guān)的動(dòng)作狀態(tài),數(shù)據(jù)采集等均由計(jì)算機(jī)完成。
計(jì)算機(jī)采用聯(lián)想一體機(jī),具有速度快、內(nèi)存大、方便攜帶等特點(diǎn)。
NI USB-6009是一塊多功能的數(shù)據(jù)采集卡,具有三組數(shù)據(jù)端口,8/4個(gè)模擬量輸入端口,兩個(gè)模擬量輸出口、13個(gè)數(shù)字輸出口。
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關(guān)鍵字:IGBT測(cè)試儀