機載高光譜光譜儀,無人機高光譜成像儀,高光譜成像光譜儀,機載高光譜相機,成像光譜儀,地物光譜儀,傅立葉變換熱紅外光譜輻射儀,光學平臺和主動除振系統(tǒng),氙燈光源,高品質濾光片
努美(北京)科技有限公司(NMERRY TECHNOLOGY CO.,LTD.)成立于2013年。主營產(chǎn)品涵蓋光電儀器、精密機械、電子、計算機技術于一體的科技企業(yè)。在全國的大學、科研機構、高新技術企業(yè)均有我們提供的高端科研儀器設備。
努美科技作為中國的高端光電儀器和實驗室配套設備制造商與進口品牌代理商,致力于把歐美等國的光電產(chǎn)品帶給中國每個科研工作者、每個科學實驗室、每個科學研究機構而努力。
制造產(chǎn)品:光學平臺、積分球系統(tǒng)、均勻光源、光譜測量系統(tǒng)等。
代理產(chǎn)品:HySpex高光譜成像儀、labsphere藍菲光學積分球系統(tǒng)、TMC光學平臺、Otsuka超快光纖光譜儀、SVC地物光譜儀、HORIBA Jobin Yvon光柵光譜儀、Avantes光纖光譜儀、Lambert時間分辨像增強相機ICCD、D P傅立葉變換熱紅外光譜輻射儀、ISDC黑體、Alluxa濾光片、Spectrogon濾光片、ASAHI-SPECTRA濾光片、Semrock濾光片、Andover濾光片、Barr濾光片、SIGMAKOKI光機械等光電產(chǎn)品。
我們本著 精誠致業(yè)、誠信為本、追求卓越 的宗旨,崇尚 人文情懷 的管理思想,博眾之長、補己之短使公司更加完善,并圍繞客戶的需求持續(xù)創(chuàng)新為客戶創(chuàng)造最大價值。
我們以專業(yè)和創(chuàng)新的理念在高校、科研、企業(yè)都擁有豐富的項目實施經(jīng)驗,已完成全國多個國家重點課題項目,為客戶提供高質量的產(chǎn)品和優(yōu)質的售后服務。
照相式三維光學掃描K30
1.設備類型:照相式三維光學掃描
單面測量范圍:400 300 mm2 至200 150 mm2可調
測量精度:0.025mm~0.015mm;
平均采樣點距:0.2mm~0.1mm
2.三維光學掃描系統(tǒng)
2.1三維光學掃描系統(tǒng)配置與功能要求
(1)數(shù)據(jù)采集傳感器:原裝進口,高速、高精密工業(yè)級相機 3,000,000像素
(2)光柵發(fā)生裝置:藍光高速數(shù)字型,非普通投影儀
(3)便攜式三角架,云臺承重10KG
(4) 計算機系統(tǒng):支持windows 7,64位操作系統(tǒng),支持內存16G以上
(5)掃描速度:高速掃描、單幅測量時間 1.5秒
(6) 光柵輸出:內置光柵、USB3.0接口控制、光柵無需雙顯卡設置輸出
(7)拼接方式:系統(tǒng)整合 一鍵式 全自動標志點拼接模塊
(8)全局誤差控制方式:系統(tǒng)整合GREC全局誤差控制模塊
(9)支持高速藍牙光筆
(10)激光點對中,方便工作距離調節(jié)
(11)附帶紅外遙控器操作掃描、拼接等功能
(12)測量頭控制高度集成,設備只需一根高速USB3.0線傳輸數(shù)據(jù)
(13)采用藍光光柵機,對外界環(huán)境光的干擾降到最低
2.2三維光學掃描系統(tǒng)軟件功能要求
* 自動拼接模塊
(1) 功能強大的中文掃描軟件中整合 一鍵式 標志點全自動拼接模塊,不需要使用外部軟件進行數(shù)據(jù)拼接
(2) 系統(tǒng)精度實時檢測功能,每次掃描拼接后自動報告拼接質量的好壞,并可實時查看對應的標志點精度
(3) 系統(tǒng)軟件整合GREC全局誤差控制模塊,可對拼接后的誤差進行全局控制
(4) 特征拼接,可利用物體的特征不貼標志點進行拼接
* 點云處理模塊
(1) 掃描數(shù)據(jù)后,可進行點云噪聲處理及修剪
(2) 基于曲率的點云精簡功能
(3) 自動生成三角面
* 對齊及檢測模塊
(1) 特征擬合功能,如平面,圓,圓柱,球等
(2) 利用特征的坐標變換功能
(3) 平面度、圓柱度、球度檢測功能
* 數(shù)據(jù)輸入輸出
(1) 導出結果為ASC,STL,OBJ,OKO等格式數(shù)據(jù)輸出接口廣泛,測量結果可與CATIA、Geomagic Studio、Imageware等逆向工程軟件自由交換數(shù)據(jù)
2.3光學觸筆裝置(選購配件)
(1) 光筆:無線型
(2) 光筆探針:三座標專業(yè)探針25mm 0.2
(3) 遙控觸發(fā)裝置:內置藍牙無線遙控,遙控距離可達10米,扳機和按鍵相結合的觸發(fā)方式,操作方便;
(4) 電源:內部集成大容量鋰電池供電,內置鋰電保護電路,大電流快速充電;
(5) 外部特征:采用LED指示燈和蜂鳴器同步提示方式與用戶進行交互;
(6) 光筆標定器:光筆組裝后進行光筆標定及誤差補償
(7) 光學觸筆裝置通過三維光學測頭識別,可對物體的特征進行接觸式測量
(8) 實現(xiàn)光學三座標接觸式測量采集工件表面的三維坐標
(9) 實現(xiàn)工件的整體接觸式測量
(10) 能測量光學三維掃描儀難以測量的部位
照相式三維光學掃描K30